英國進口SunScan植物冠層分析儀系統

通過測量作物冠層PAR值提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖 。

原理：

根據冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數。

軟件計算：

Sunscan系統主要是通過測量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來計算葉面積指數（LAI），軟件中涉及到的參數有：

直射和散射入射輻射光、葉面積指數、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個參數中，天頂角是根據當地的時間、經度和緯度來計算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計的，其他的參數都是直接測量得出的。

組成：

植物冠層分析儀(專業版/無線版),包含 SS1 Sunscan 探頭,SDA2 SunData 軟件,RPDA2掌上數據管理器和防護殼,BF5 日照傳感器,軟件和手冊光盤,BF5-SS1-05 5 米電纜,EXT/8W-055 米延長電纜,SS-TD 可伸縮三角支架和 SCC1 便攜箱.（無線版本帶有無線發射器，不需要線纜連接）

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